用角差法檢定大理石平板平面度的方法有幾種

常用的大理石平板平面度檢定方法有兩大類：直接測量法和間接測量法。

1、大理石平板直接測量法是直接獲得平面各點偏差值或直接評定平面度誤差值。這種測量方法可直接得到線值結果，因此也叫線差法。屬于這類測量方法的有刀口直尺或平尺的墊塞法，標準大理石平板的打表法，激光準直儀測量法。

2、大理石平板間接測量法是利用水平儀或自準直儀在被測平面若干個測量截面上，以節(jié)距法進行測量，得到各被測點相對于測量基準（水平面或光軸直線）的傾斜角度，在取得最后結果時，將角值表示的量值換算為以線值表示的量值。這種方法從儀器器中讀得的數值是角度值，因此也叫角差法。屬于這類方法的有水平儀法和自準直儀法。

自準直儀法是將固有的反射鏡的橋板置于被測平板上（圖36），按對角線布點形式移動橋板，逐個節(jié)距測出被測面上相鄰兩點連線相對測量基線（面 ）的傾斜角，通過數據處理求出平面度誤差值。自準直儀法常用米字型布點，若用網格型布點，則需要更多的反射鏡，調整比較麻煩。測量時將自準直儀放在大理石平板外牢固的支座上，固有反射鏡的橋板按規(guī)定截面逐個節(jié)距進行移動如圖37所示，測完一個界面在調整儀器測量第二個截面，直到測完規(guī)定截面為止。

當被測大理石平板較大時，可以將自準直儀放在大理石平板上進行檢定，為了減少自準直儀移動次數，可以增加一個反射鏡，以改變瞄準方向如圖38所示。將自準直儀放在位置1，就可測有標記1的三條截面，將自準直儀移至位置2、3、4，就可以測出標記2、3、4的各個截面，如果儀器帶有兩個反射鏡，可以按下圖方式測量，可以減少儀器裝調次數，提高測量效率。此方法適用于大中型大理石平板平面度檢定。